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Autor:
Hartig, Johannes (Hrsg.); Klieme, Eckhard (Hrsg.):

Titel:
Möglichkeiten und Voraussetzungen technologiebasierter Kompetenzdiagnostik.
Eine Expertise im Auftrag des Bundesministeriums für Bildung und Forschung.

Quelle:
Berlin : BMBF (2007) , 103 S.

Serie:
Bildungsforschung. Bd. 20

URL des Volltextes:
http://www.bmbf.de/pub/band_zwanzig_bildungsforschung.pdf

Sprache:
Deutsch

Dokumenttyp:
Monographie; Monographie/Herausgeber

Schlagwörter:
Kompetenz, Begriff, Messung, Empirische Forschung, Psychometrie, Diagnostik, Diagnostischer Test, Verfahren, Test, Bildungsprozeß, Leistungsmessung, Computer, Informationstechnologie, Softwaretechnologie, Netzwerk, Internet, Bildungsforschung, Deutschland


Abstract:
Der vorliegende Band richtet sich an potenzielle Anwender empirischer Kompetenzerfassungin Wissenschaft und Praxis und stellt die Möglichkeiten und Chancen neuerAssessment-Technologien in diesem Bereich dar. Zugleich werden die technischenAnforderungen, die sich in spezifischen Anwendungskontexten ergeben, behandelt. Die einzelnen Beiträge des Bandes befassen sich zunächst mit konzeptionellenGrundlagen der empirischen Erfassung von Kompetenzen wie der Definition des Kompetenzbegriffs, den Qualitätsanforderungen an Testverfahren und Fragen derpsychometrischen Modellierung von Kompetenzen. Hierauf aufbauend werden Möglichkeiten und potenziell kritische Aspekte technologiebasierten Assessmentsbehandelt. Aus der Perspektive verschiedener Anwendungen werden technische Anforderungen an computer- und netzwerkbasierte Kompetenzerfassung formuliert.Schließlich werden mehrere konkrete Anwendungsszenarien technologiebasierten Assessments in verschiedenen Kontexten von Bildungsevaluation, Bildungsforschungund Lehre skizziert und die Anforderungen an die Architektur einer Software-Plattform für technologiebasierte Kompetenzdiagnostik abgeleitet. (DIPF/Orig.)


DIPF-Abteilung:
Bildungsqualität und Evaluation

Notizen:

last modified Nov 11, 2016